12月8日，爱德万测试同成都华微联合举办的“2023技术研讨会”在成都举行。本次研讨会围绕V93000 EXA Scale平台更新及高性能数字测试趋势和解决方案、纳米时代测试技术挑战与发展趋势、基干Pin Scale Multilevel Serial的新一代高速测试方案等一系列前沿的测试解决方案议题展开深入讨论。活动现场聚集了50余家集成电路企业，现场氛围活跃。