北京大学:成功研发超高耐压GaN技术
近日,北京大学崔家玮、魏进团队在2023 IEDM大会上发表了《具有超低动态电阻的6500V 有源钝化氮化镓p型栅高电子迁移率晶体管》论文。
论文提及,该团队已成功研发增强型p 型栅GaN晶体管,并首次在高达 4500V 工作电压下实现低动态电阻工作能力。
据悉,该研究人员是在 GaN 功率器件的表面引入新型有源钝化结构,在蓝宝石衬底成功制备具有该结构的新型器件,使用该结构所制备的器件击穿电压得到大幅度提升,实现大于 6500V 的耐压能力。